针对客户测量大直径、长尺寸硅晶圆片、晶棒而设计,此仪器为双工作位。
标准配置如下:GA, GC测角仪。 1、一侧用于测3--8英寸晶圆片111、100面,还可测晶棒参考面(110)等角度。 2、另一侧用于测直径5----8英寸,长800mm晶棒(111、100)晶面等角度。
主要参数:
项 目 |
参 数 |
晶棒直径 |
5---8英寸、最大11寸 |
晶棒长度 |
800 mm |
样品板面积 |
43宽×112高mm |
定向精度 |
±30″ |
数显方式 |
θ:度;分;秒;最小读数10″ |
显示器 |
外置立式 |
技术指标 |
符合YX-2参数。 |
尺 寸 |
1210×810×1420 mm | |